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| 其它设备 >> KD-CI100细度测量仪 |
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产品编号： |
5241373916 |
产品名称： |
KD-CI100细度测量仪 |
规 格： |
KD-CI100 |
产品备注： |
KD-CI100 |
产品类别： |
其它设备 |
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| 产 品 说 明 |
工作原理
本系统利用颗粒对光的散射（衍射）现象测量颗粒大小的，即光在行进过程中遇到颗粒（障碍物）时，会有一部分偏离原来的传播方向；颗粒尺寸越小，偏离量越大；颗粒尺寸越大，偏离量越小。散射现象可用严格的电磁波理论，即 Mie 散射理论描述。根据Mie散射理论，由测得的光能分布就可推算样品的粒度分布。
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| 点击数：1079 录入时间：2021/5/24 【打印此页】 【关闭】 |
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